我有一个非常简单的电路上面,有一个1uf旁路电容并联到IC的VCC和GND。
我需要通过测试板检测这个电容的存在,但我的测试器不能测量电容,只能测量电压/电流。
当电容仍在充电时,我试图测量电压。在VCC上涂抹电流100 UA,可以观察到通过TestPad的电压差(电容器存在电容器时〜250 mV,电容器不存在〜500 mV),如下图所示:
现在我的问题是,旧的测试器只能提供超过20ms的电流,当20ms的时候,电容已经充满电并且充当开路,所以我无法观察电压测量的差异。
有没有办法在不修改电路的情况下,减慢电容的充电速度,通过电压测量来检测电容的存在?如果没有,还有其他方法来测量这个电容的存在吗?
有人建议增加串联电阻以降低能量传递到电容器的速率。下面尝试用低/高电阻串联/并联进行模拟,只观察电容充电曲线的变化,但仍然不能观察差异来检测旁路电容的存在。